ZEM20臺式掃描電鏡在硅片與芯片質量檢測中的應用

隨著我國半導體產業的高速發展，對硅片與芯片微細結構的表征與質量控制提出了更高要求。

ZEM18電鏡助力PCB板質量檢測與過程控制

隨著電子信息產業的快速發展，PCB印制板作為電子產品的重要組成部分，其質量好壞直接影響電子設備的性能和可靠性。

硅具有高比容量、低成本和自然儲量豐富等優勢，然而其本征缺陷卻限制了其在電池技術中的進一步應用。

我國是一個制造業大國，數控機床的產量和保有量居全球前列。在精密加工過程中，刀具的性能直接關系到加工質量。

隨著科技的進步和教育水平的提高，電子顯微技術在科研和教學領域的應用日益廣泛。

當今工業領域對于產品的質量和安全性的要求越來越高，因此需要高效、準確的檢測技術來保障產品的品質。

上一期內容我們介紹了ZEM18電鏡在半導體領域的應用：《澤攸案例┃ZEM18在半導體行業中的應用》，除了半導體領域，ZEM18掃描電鏡在建筑、冶金材料和新能源領域上也有廣泛的應用。

掃描電鏡是一種廣泛應用于材料科學、半導體工藝等領域的必備工具，它可以通過探測樣品表面激發出來的電子信號，對物質微觀形貌進行表征。