榮膺殊榮！澤攸科技通過安徽省“專精特新”中小企業認定！

8月4日，安徽省經濟和信息化廳會同省發展改革委、省住房和城鄉建設廳、省農業農村廳、省商務廳、省文旅廳組織開展了2023年度省專精特新中小企業申報工作，公示了入選“2023年度安徽省專精特新企業名單”

邀請函┃澤攸科技將參加第11屆（2023年）半導體設備材料與核心部件展示會

8月9~11日，第十一屆（2023年）中國電子專用設備工業協會半導體設備年會暨產業鏈合作論壇和第十一屆（2023年）半導體設備與核心部件展示會(CSEAC)將在江蘇省無錫太湖國際博覽中心舉辦。

在臺式掃描電鏡（SEM）中，樣品表面充電問題是一個常見的挑戰，可能會導致圖像質量下降、分析誤差等。

臺式掃描電鏡（SEM）是一種強大的顯微鏡，可以用于高分辨率的表面成像和分析。

在臺式掃描電鏡（SEM）中實現三維表面重建是一項復雜的任務，通常涉及圖像采集、圖像處理和三維重建等多個步驟。

利用臺式掃描電鏡（SEM）進行金屬結構和表面分析可以揭示金屬材料的微觀結構、形貌特征以及表面成分分布。

處理和觀察非導電樣品是掃描電鏡（SEM）分析中的一個常見挑戰，因為非導電材料會產生充電效應，導致圖像質量下降。

原位樣品桿是一種用于在不同環境條件下進行材料研究的實驗裝置。