如何校準掃描電鏡的倍率？

校準掃描電鏡（SEM）的倍率是確保圖像尺寸測量準確可靠的關鍵步驟。

如何在掃描電鏡中精確定位觀察區域？

在掃描電子顯微鏡（SEM）中精確定位觀察區域是獲得有代表性圖像和高質量分析的基礎。

樣品在掃描電子顯微鏡（SEM）中的放置角度確實會影響獲得的圖像質量和信息。

掃描電鏡（SEM）圖像的尺寸標定是為了確保圖像上的距離測量與實際物理尺寸相對應。

樣品的偏斜角度會顯著影響掃描電鏡（SEM）的成像效果。

掃描電鏡（SEM）拍攝圖像出現拖影（smearing、streaking 或 shadowing），通常表現為圖像邊緣模糊、重復輪廓或拉長的影子。

判斷掃描電鏡（SEM）下樣品是否被污染，通常可以通過以下幾個方面進行觀察和分析：

非導電樣品在掃描電鏡（SEM）中成像時會面臨一個主要問題：電荷積累（charging）。因為電子束轟擊非導體后，電子無法迅速導出，導致樣品表面積累負電荷，從而產生圖像漂移、亮度不均甚至成像失敗。