掃描電鏡樣品表面電荷積累怎么釋放？

在掃描電鏡（SEM）觀察過程中，非導(dǎo)體樣品或?qū)щ娦圆畹臉悠繁砻嫒菀追e累電荷，這會導(dǎo)致圖像發(fā)白、模糊、漂移甚至“閃爍”，嚴(yán)重影響成像質(zhì)量。

掃描電鏡SEM 圖像對比度太低怎么辦？

如果掃描電鏡（SEM）圖像對比度太低，圖像會顯得灰蒙蒙、細(xì)節(jié)不清，無法分辨結(jié)構(gòu)差異。

在掃描電鏡（SEM）中，放大倍數(shù)是通過調(diào)節(jié)電子束掃描范圍來實(shí)現(xiàn)的，而不是像光學(xué)顯微鏡那樣靠更換鏡頭。

掃描電鏡（SEM）的掃描范圍是可以放大或縮小的，而且這正是實(shí)現(xiàn)“放大倍數(shù)”變化的核心原理。

掃描電鏡（SEM）成像模糊很大可能是焦距沒有調(diào)好。成像模糊的成因通常可以分為對焦問題、樣品問題、參數(shù)設(shè)置問題和機(jī)械或電子系統(tǒng)問題。

掃描電鏡（SEM）樣品成像過程中被“燒焦”，一般指樣品在電子束照射下發(fā)生局部碳化、變色、融化或形貌破壞，這是一種不可逆的損傷現(xiàn)象，尤其在非導(dǎo)電或有機(jī)樣品中較常見。

在掃描電鏡（SEM）成像時(shí)，如果樣品邊緣特別亮，這是一個(gè)非常常見的現(xiàn)象，通常由以下幾個(gè)主要原因造成：

在掃描電鏡（SEM）拍圖時(shí)，標(biāo)注比例尺（scale bar）是非常重要的一步，可以讓觀察者明確圖像所代表的實(shí)際尺寸。