掃描電鏡成像清晰但對(duì)比度很低

掃描電鏡成像已經(jīng)清晰但整體對(duì)比度很低，通常不是分辨率問(wèn)題，而是信號(hào)類(lèi)型和參數(shù)匹配不當(dāng)造成的。

掃描電鏡樣品表面起伏大怎么調(diào)參數(shù)

掃描電鏡下樣品表面起伏很大時(shí)，成像參數(shù)如果不配合，就容易一部分清楚、一部分發(fā)虛或過(guò)曝。

掃描電鏡中不同樣品亮度差異很大，通常不是設(shè)備問(wèn)題，而是樣品特性和成像條件共同決定的結(jié)果，主要原因集中在下面幾個(gè)方面。

掃描電鏡成像時(shí)容易丟細(xì)節(jié)，通常不是分辨率“不夠”，而是成像條件把細(xì)節(jié)掩蓋或平均掉了，常見(jiàn)原因主要有這些。

掃描電鏡圖像出現(xiàn)局部過(guò)曝，說(shuō)明局部信號(hào)強(qiáng)度過(guò)高，已經(jīng)超過(guò)探測(cè)器或顯示范圍，需要從成像參數(shù)和樣品狀態(tài)兩方面來(lái)處理。

掃描電鏡圖像出現(xiàn)中間清晰、邊緣模糊，是比較常見(jiàn)的現(xiàn)象，通常與電子光學(xué)條件和樣品狀態(tài)有關(guān)，而不是單一故障。

在掃描電鏡里找樣品位置，一般按由粗到細(xì)的思路來(lái)操作，會(huì)快很多，也不容易撞樣。

掃描電鏡圖像細(xì)節(jié)看不出來(lái)，一般不是單一原因，往往是成像條件沒(méi)有匹配好，常見(jiàn)問(wèn)題集中在電子束、樣品狀態(tài)和成像參數(shù)上。